En 2017, le projet ATOMA (Analyses et observations : du micromètre à l'angström), concernant l'achat d'un Microscope Électronique en Transmission (MET*) a été initié pour renouveler deux équipements vieillissant, un basé au sein du laboratoire MSSMat (UMR CNRS 8579) et un au laboratoire ICMMO (UMR CNRS 8182). Des réunions préparatoires avec les interlocuteurs/utilisateurs susceptibles d’être intéressés par l’usage d’un MET 200 kV LaB6 ont permis de converger vers l'achat d'un équipement mutualisant les besoins de 7 entités appartenant à différentes composantes de l’Université Paris-Saclay : l'ICMMO, le LCP, l’ISMO, l’IAS, l’OSUPS, mais aussi CentraleSupélec et l’ENS Paris-Saclay.
L’investissement pour l’acquisition du microscope a été rendu possible par l’aide de la région Île-de-France, l’Université Paris-sud et des LABEX CHARMMMAT, LaSIPS, et du CNRS.

C'est un microscope qui travail en mode MET conventionnel et en mode balayage STEM (Scanning Transmission Electron Microscope**).
Il dispose de différents porte-objets. Il est équipé d'une caméra CMOS à bas niveau de lumière et d'un système d'acquisition in-situ. Il est aussi équipé d'un système d'analyse EDS permettant les acquisition en modes ponctuel, ligne ou cartographie.

Ce microscope permet la caractérisation de tous types d'échantillons solides et secs, convenablement préparés... (métalliques, géologiques, chimiques, pharmaceutiques, biologiques, massifs ou particulaires, etc.

Il s'agit d'un microscope destiné à des usages plus quotidiens et conventionnels. Sa mise en service en novembre 2019 vient compléter l’offre de microscopie existante au laboratoire MSSMat : "TITAN", un microscope électronique à transmission (MET) de très haute résolution, et "HELIOS", un microscope électronique à balayage, équipé d'une sonde ionique focalisée (MEB/FIB). Ces équipements de premier plan font partie de l’EQUIPEX MATMECA et sont complémentaires de ce nouveau microscope en permettant aux chercheurs de CentraleSupélec et de la communauté de travailler sur les défis posés par le comportement des matériaux et des structures.

*La microscopie électronique en transmission (MET, ou TEM pour Transmission Electron Microscopy) est une technique de microscopie où un faisceau d'électrons est « transmis » à travers un échantillon très mince. Les effets d'interaction entre les électrons et l'échantillon donnent naissance à une image, dont la résolution peut atteindre 0,08 nanomètre (voire 0,04 nm1,2). Les images obtenues ne sont généralement pas explicites, et doivent être interprétées à l'aide d'un support théorique. L'intérêt principal de ce microscope est de pouvoir combiner cette grande résolution avec les informations de l'espace de Fourier, c'est-à-dire la diffraction. Il est aussi possible d'étudier la composition chimique de l'échantillon en étudiant le rayonnement X provoqué par le faisceau électronique.

**Le balayage STEM est un type de microscope électronique dont le principe de fonctionnement allie certains aspects du microscope électronique à balayage et du microscope électronique en transmission. Une source d'électrons focalise un faisceau d'électrons qui traverse l'échantillon. Un système de lentilles magnétiques permet à ce faisceau de balayer la surface de l'échantillon à analyser.